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　　在實際生產中，工件的材料厚度、形狀、表麵粗糙度等存在差異，這些差異會對實際測量結果造成影響。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大於這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小於儀器所要求的臨界厚度，檢測結果就會與實際厚度有差別。

　　塗層測厚儀則可以無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性塗層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺琅、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：琺琅、橡膠、油漆、塑料等）。采用了磁性測厚法、可無損傷地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不鏽鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺琅、橡膠、油漆鍍層）。

　　基本工作原理是：當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由於非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控製和保證產品質量常用的檢測儀器，廣泛地應用在製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。

　　塗層測厚儀基體：
　　1.對於本儀器標準基體金屬的磁性和表麵粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表麵粗糙度相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數進行比較。
　　2.如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的臨界厚度，可采用下麵兩種方法進行校準：
　　1）在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準；
　　2）用一足夠厚度的，電學或磁學性質相似的金屬襯墊標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩麵有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
　　3.如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平麵上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置於校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。